测试用集成电路插座

发明专利无效专利

申请号：
CN99100688.7
IPC分类号：--
申请日期：
1999-02-13
申请人：
日本电气株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	测试用集成电路插座
申请号	CN99100688.7	申请日期	1999-02-13
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	1999-08-25	公开/公告号	CN1226758
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	日本电气株式会社	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	日本电气株式会社	当前权利人	日本电气株式会社
发明人	森阳一;青木芳广
代理机构	中原信达知识产权代理有限责任公司	代理人	穆德骏;余朦

摘要

一种用于测试网格阵列封装的IC插座,该IC插座具有可装配于在测试板上安装的适配器插座中的结构,该IC插座包括IC插座本体、多个触点和固定板,IC插座本体具有底板,在底板上形成穿透底板且以短阵形式排列的多个接触固定孔,多个触点分别带有接触端部,弹簧部分,固定基座部分和接触管脚且各部分按顺序排列,各触点的固定基座部分从底板的上侧插入IC插座本体的对应接触固定孔,固定板有多个对应数量的固定孔。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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