显示面板缺陷的自动检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410782236.5
IPC分类号：G06T7/00;G06T7/44
申请日期：
2014-12-16
申请人：
深圳市华星光电技术有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	显示面板缺陷的自动检测方法
申请号	CN201410782236.5	申请日期	2014-12-16
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-04-01	公开/公告号	CN104484878A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;4;4查看分类表>
申请人	深圳市华星光电技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市华星光电技术有限公司	当前权利人	深圳市华星光电技术有限公司
发明人	胡厚亮;朱立伟
代理机构	深圳市铭粤知识产权代理有限公司	代理人	孙伟峰;武岑飞

摘要

本发明公开一种显示面板缺陷的自动检测方法，包括：获取标记图像、映射原始图像及映射标记图像；将所述映射原始图像划分为若干子映射原始图像，且将所述映射标记图像划分为若干子映射标记图像；获取所述子映射原始图像的正常区与缺陷区；将各所述子映射原始图像合并为分辨出正常区和缺陷区的映射原始图像；利用所述映射标记图像与所述标记图像对所述分辨出正常区和缺陷区的映射原始图像进行校正，以获取显示面板的缺陷位置。本发明的显示面板缺陷的自动检测方法，能够准确地获取缺陷的位置以及缺陷与正常区域的差异，从而能够准确地量化和评判显示面板上的缺陷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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