一种岩体结构面起伏度测量仪及其测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510082137.0
IPC分类号：G01B7/34
申请日期：
2015-02-15
申请人：
湖南科技大学

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著录项信息

专利名称	一种岩体结构面起伏度测量仪及其测量方法
申请号	CN201510082137.0	申请日期	2015-02-15
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-05-13	公开/公告号	CN104613864A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B7/34 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B7/00 以采用电或磁的方法为特征的计量设备 G01B7/34 用于计量表面的粗糙度或不规则性	IPC分类号	G;0;1;B;7;/;3;4查看分类表>
申请人	湖南科技大学	申请人地址	湖南省湘潭市雨湖区石码头2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	湖南科技大学	当前权利人	湖南科技大学
发明人	曹运江;何斌华;杨浩;戴世鑫;蒋宗立;陈秋南;杨小芹;黄玉凤
代理机构	湘潭市汇智专利事务所（普通合伙）	代理人	颜昌伟

摘要

本发明公开了一种岩体结构面起伏度测量仪及其测量方法，所述测量仪包括矩阵探针、支柱、面板、数/模转换器、译码器、单片机、显示器。测量仪通过支柱放置于岩体结构面上，所述支柱上固定有面板，矩阵探针穿过面板与岩体结构面接触，所述矩阵探针起伏度不同所对应的电阻值通过数/模转换器、译码器传递到单片机，并通过显示器对采集结果进行显示。本发明能自动、批量采集岩体结构面起伏度数据，每次采集结果都直接显示在屏幕上，一目了然，不需要辅助计算。并且可以根据不同对象调整测试面板的高度，使用非常方便，能准确、快捷地反映岩体软/硬质结构面的波状起伏、凹凸形态、粗糙程度，测定其粗糙度和起伏角。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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