用于可配置扫描架构的测试设计优化器

发明专利有效专利

申请号：
CN200980000211.2
IPC分类号：G01R31/26;H01L21/66
申请日期：
2009-04-30
申请人：
新思科技有限公司

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著录项信息

专利名称	用于可配置扫描架构的测试设计优化器
申请号	CN200980000211.2	申请日期	2009-04-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-08-25	公开/公告号	CN101815951A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;H;0;1;L;2;1;/;6;6查看分类表>
申请人	新思科技有限公司	申请人地址	美国加利福尼亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	新思科技有限公司	当前权利人	新思科技有限公司
发明人	R·卡普尔;J·塞基阿;R·宇普鲁里;P·诺蒂雅斯;T·费尔南德斯;S·库尔卡尔尼;A·安巴兰
代理机构	北京市金杜律师事务所	代理人	王茂华;黄耀钧

摘要

粗略地说，根据所考虑的电路设计来优化基于扫描的测试架构。在一个实施例中，形成多个候选测试设计。对于每一个候选测试设计来说，根据电路设计和候选测试设计而生成多个测试矢量，并且这些测试矢量优选是使用同一ATPG算法生成的，其中所述算法会在下游使用，以便生成用于制造集成电路器件的最终测试矢量。在这里为每一个候选测试设计都确定了故障覆盖率之类的测试协议质量量度，并且根据对这些测试协议质量量度所进行的比较来选择其中一个候选测试设计，以便在集成电路器件中加以实施。优选地，只有能被ATPG生成的完整测试矢量集合中的采样才被用于确定每一个特定候选测试设计所要发现的潜在故障的数量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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