用于表征仪表误差的方法和装置

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专利名称	用于表征仪表误差的方法和装置
申请号	CN201580029633.8	申请日期	2015-04-27
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2017-05-17	公开/公告号	CN106687763A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 21/10优先）〔3〕 G01B21/04 通过测量各点的坐标〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;4查看分类表>
申请人	泰勒-霍普森有限公司	申请人地址	英国莱斯特郡变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	泰勒-霍普森有限公司	当前权利人	泰勒-霍普森有限公司
发明人	肖少军
代理机构	北京安信方达知识产权代理有限公司	代理人	宁晓;郑霞

摘要

一种用于表征表面测量仪表中的仪表误差的方法，包括获得表示第一参考对象的已知表面形式的第一校准测量数据，和获得表示第二参考对象的已知表面形式的第二校准测量数据。第二校准测量数据的至少一部分表示测量范围，其与第一校准测量数据的测量范围的至少一部分重叠。获得表征仪表误差的共同误差函数。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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