采用已校准幻象确定局部弛豫时间值的MR方法和MR成像设备

发明专利无效专利

申请号：
CN200580028683.0
IPC分类号：G01R33/50
申请日期：
2005-08-19
申请人：
皇家飞利浦电子股份有限公司

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著录项信息

专利名称	采用已校准幻象确定局部弛豫时间值的MR方法和MR成像设备
申请号	CN200580028683.0	申请日期	2005-08-19
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-08-01	公开/公告号	CN101010597
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/20 涉及磁共振（医学方面入A61B 5/055；磁共振陀螺测试仪入G01C 19/60）〔4，5〕 G01R33/44 采用核磁共振（NMR）（G01R 33/24，G01R 33/62优先）〔5〕 G01R33/48 核磁共振图像系统〔5〕 G01R33/50 基于张弛时间的确定〔5〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;5;0查看分类表>
申请人	皇家飞利浦电子股份有限公司	申请人地址	荷兰艾恩德霍芬变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	皇家飞利浦电子股份有限公司	当前权利人	皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人	U·卡特舍;H·达恩克
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	刘红;王忠忠

摘要

本发明涉及确定检查对象(5)的局部弛豫时间值(T1，T2)的MR方法。首先，记录检查对象(5)的两个或更多的MR图像(3，4)，所述每个图像具有不同的成像序列的时间参数设置(TR1，TE1，TR2，TE2)。同样记录幻象的MR图像(6，7)，其中使用成像序列的相同时间参数设置(TR1，TE1，TR2，TE2)，并且其中所述幻象具有弛豫时间值(T1，T2)的已知空间分布。通过比较检查对象(5)的MR图像(3，4)的图像值和幻象的MR图像(6，7)的图像值，以及通过根据幻象的弛豫时间值(T1，T2)的已知空间分布将幻象的MR图像(6，7)的图像值分配给弛豫时间值(T1，T2)，来确定所述检查对象(5)的局部弛豫时间值(T1，T2)。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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