降低缓存命中率的内存测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510808418.X
IPC分类号：G06F11/26
申请日期：
2015-11-19
申请人：
英业达科技有限公司;英业达股份有限公司

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著录项信息

专利名称	降低缓存命中率的内存测试方法
申请号	CN201510808418.X	申请日期	2015-11-19
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2016-03-02	公开/公告号	CN105373456A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/22 在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位〔3，2006.01〕 G06F11/26 功能检验〔3〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人	英业达科技有限公司;英业达股份有限公司	申请人地址	上海市闵行区漕河泾出口加工区浦星路789号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	英业达科技有限公司,英业达股份有限公司	当前权利人	英业达科技有限公司,英业达股份有限公司
发明人	李岩
代理机构	北京志霖恒远知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	孟阿妮;郭栋梁

摘要

本发明提供一种降低缓存命中率的内存测试方法，包括：将待测内存划分为若干预设大小的内存区段；将预设的内存测试算法划分为若干测试步骤；对所述若干内存区段依次执行所述若干测试步骤；其中，在每一所述内存区段执行任意两个连续的所述测试步骤之间，至少对另一所述内存区段执行一所述测试步骤。本发明通过依次对不同的内存区段执行测试步骤，实现了缓存无法持续形成有效的关注区段，使得缓存状态一直在抖动，降低了缓存命中率，从而提高了内存测试的有效性；并进一步通过监测并统计所述内存测试算法执行过程的执行时间与缓存命中，根据统计结果优化内存测试算法的测试步骤划分，从而兼顾考虑内存测试的效率和有效性，优化所述内存测试方法。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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