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样本分析装置及样本分析系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201180015872.X
  • IPC分类号:G01N35/02;G01N35/04
  • 申请日期:
    2011-03-29
  • 申请人:
    希森美康株式会社;爱科来株式会社
著录项信息
专利名称样本分析装置及样本分析系统
申请号CN201180015872.X申请日期2011-03-29
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2012-12-12公开/公告号CN102822678A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N35/02IPC分类号G;0;1;N;3;5;/;0;2;;;G;0;1;N;3;5;/;0;4查看分类表>
申请人希森美康株式会社;爱科来株式会社申请人地址
日本兵库县神户市中央区胁浜海岸通1丁目5番1号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人希森美康株式会社,爱科来株式会社当前权利人希森美康株式会社,爱科来株式会社
发明人水本徹;泉幸庆;堤田惠介;中岛真也
代理机构北京市安伦律师事务所代理人刘良勇
摘要
提供一种能够高效地处理样本的样本分析装置及样本分析系统。样本分析装置1具有:用于测定样本的第一测定装置11和第二测定装置12;以及运送安放有数个样本容器51的样架50的运送装置20。运送装置20中设有用于向第一测定装置11供应样本的第一供应位置26a和用于向第二测定装置12供应样本的第二供应位置26b。第一供应位置26a和第二供应位置26b的距离设定为安放在样架50上的相邻的样本容器51之间的间距的倍数。以此,样架50的两个不同的安放部件中安放的样本容器51能够同时放置到第一供应位置26a和第二供应位置26b,因此,能够同时处理两个样本,从而可以高效地进行样本处理。

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