一种颗粒材料缓冲性能的测量系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201510275423.9
IPC分类号：G01N15/00
申请日期：
2015-05-26
申请人：
大连理工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种颗粒材料缓冲性能的测量系统
申请号	CN201510275423.9	申请日期	2015-05-26
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2015-10-07	公开/公告号	CN104964901A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;0;0查看分类表>
申请人	大连理工大学	申请人地址	辽宁省大连市甘井子区凌工路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	大连理工大学	当前权利人	大连理工大学
发明人	季顺迎;樊利芳;陈晓东
代理机构	大连理工大学专利中心	代理人	李宝元;梅洪玉

摘要

本发明提供了一种颗粒材料缓冲性能的测量系统。颗粒物质是一种能量快速耗散体系，主要通过颗粒间的非弹性碰撞和滑动摩擦消耗能量，同时颗粒间的力链结构能够增加外载荷的作用面积和作用时间，从而对冲击载荷起到一定的缓冲作用，降低冲击带来的破坏。本发明由固定支架、颗粒冲击系统、力学响应测量系统以及图像采集系统四部分组成，不仅实现了对颗粒物质的垂直冲击，并能够准确测量冲击物的加速度和底板所受的冲击力，记录冲击过程中颗粒表面形态和冲击物运动的变化，为准确测量颗粒物质的缓冲性能提供了一种可靠装置。该装置还可以实现对颗粒层厚度和冲击高度的控制调节，研究颗粒层厚度和冲击高度对其缓冲特性的影响。

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