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半导体存储器件及半导体存储器件操作方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200910211823.8
  • IPC分类号:G11C7/06;G11C7/08
  • 申请日期:
    2009-11-05
  • 申请人:
    恩益禧电子股份有限公司
著录项信息
专利名称半导体存储器件及半导体存储器件操作方法
申请号CN200910211823.8申请日期2009-11-05
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2010-06-16公开/公告号CN101740096A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G11C7/06IPC分类号G;1;1;C;7;/;0;6;;;G;1;1;C;7;/;0;8查看分类表>
申请人恩益禧电子股份有限公司申请人地址
日本东京 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人瑞萨电子株式会社当前权利人瑞萨电子株式会社
发明人下川健寿;古田博伺;名贺俊作;白井隆之
代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司代理人孙志湧;穆德骏
摘要
本发明提供了一种能够避免回写电流集中的破坏性读出半导体存储器件及半导体存储器件操作方法,在半导体存储器件中,在每一条位线(21)与每一个灵敏放大器(26)之间设置有开关电路(24)。在回写时,在错开的时间点接通开关电路。在读出时,接通开关电路以将存储单元数据读出到灵敏放大器而同时关断灵敏放大器,并且然后关断开关电路一次。在此之后,接通灵敏放大器以放大读出数据。随后,将开关电路分成组并再次接通,以将由灵敏放大器放大的数据回写到存储单元。开关电路被分成组以使其在回写期间在错开的时间点接通,从而避免回写电流集中在一个时段。

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