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半导体元件测试用分选机及其操作方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510075988.2
IPC分类号：B07C5/344;B07C5/02
申请日期：
2015-02-12
申请人：
泰克元有限公司

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	半导体元件测试用分选机及其操作方法
申请号	CN201510075988.2	申请日期	2015-02-12
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-08-19	公开/公告号	CN104841649A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	B07C5/344 ? IPC结构图谱： B 作业；运输 B0 分离；混合 B07 将固体从固体中分离；分选 B07C 邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选（专门适用于特定用途的并已包含在其他类的，参看有关的类，如A43D 33/06、B23Q 7/12） B07C5/00 按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选（仅用手工的分选入B07C 7/00；用筛，过滤，筛选或用气流或适用于散装材料的其他干式分离法将固体从固体中分离入B07B；硬币的分选入G07D）〔3〕 B07C5/34 根据其他特殊性质来分选 B07C5/344 根据电或电磁性质	IPC分类号	B;0;7;C;5;/;3;4;4;;;B;0;7;C;5;/;0;2查看分类表>
申请人	泰克元有限公司	申请人地址	韩国京畿道华城市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	泰克元有限公司	当前权利人	泰克元有限公司
发明人	金镇洙;洪光珍
代理机构	北京铭硕知识产权代理有限公司	代理人	孙昌浩;韩芳

摘要

本发明公开一种在测试生产出的半导体元件时将半导体元件电连接到测试器侧的分选机。根据本发明的分选机使操作器的操作中的至少一部分重新进行，由此向测试托盘施加冲击而引导非正常安置的半导体元件正确地安置，其中，所述操作器用于操作配备于测试托盘上的插入件的闩锁件。由此，具有可以大幅度地减少管理者的手动作业，并提高分选机的运行率的效果。

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