一种三维扫描测距装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202011474521.2
IPC分类号：G01B11/00;G01B11/22
申请日期：
2020-12-14
申请人：
国科光芯（海宁）科技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种三维扫描测距装置及方法
申请号	CN202011474521.2	申请日期	2020-12-14
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-03-16	公开/公告号	CN112504126A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;2;2查看分类表>
申请人	国科光芯（海宁）科技股份有限公司	申请人地址	浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区漕河泾路17号4幢变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	国科光芯（海宁）科技股份有限公司	当前权利人	国科光芯（海宁）科技股份有限公司
发明人	刘敬伟;李文玲;韦钟辉
代理机构	北京三聚阳光知识产权代理有限公司	代理人	李静玉

摘要

本发明公开了一种三维扫描测距装置及方法，该装置包括：光扫描芯片、聚焦透镜、光接收元件及微处理器，光扫描芯片用于依次扫描输出多个角度的一字线光斑至待测物体上；聚焦透镜用于将待测物体在多个一字线光斑照射下反射的多个光束依次进行聚焦；光接收元件用于依次接收聚焦透镜聚焦后的多个光束，得到多幅包含亮斑的图像；微处理器，用于根据不同扫描角度及不同行像素下亮斑与待测物体深度之间的第一关系对多幅包含亮斑的图像进行解析，得到待测物体的三维点云。通过实施本发明，采用光扫描芯片进行一字线光斑的扫描及光接收元件中光斑的解析，省去了机械旋转扫描部件，实现了三维固态激光雷达的功能，在近距离测距中得到了较好的测距精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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