一种治具测试机台

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202220840470.9
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2022-04-12
申请人：
合肥晶岚半导体有限公司

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著录项信息

专利名称	一种治具测试机台
申请号	CN202220840470.9	申请日期	2022-04-12
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	合肥晶岚半导体有限公司	申请人地址	安徽省合肥市肥东县经济开发区横大路与五号路交口处东侧变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	合肥晶岚半导体有限公司	当前权利人	合肥晶岚半导体有限公司
发明人	蔡兴杰
代理机构	昆明合众智信知识产权事务所	代理人	史凯

摘要

本实用新型公开了一种治具测试机台，包括设置在基座上的第一载台和第二载台，所述第一载台和第二载台上均设置有与测试治具电性连接的信号发射源，所述第一载台和第二载台上设置有控制测试治具气缸动作的控制按钮，所述第一载台和第二载台上设置有多组与测试治具定位孔相对应的定位柱。本实用新型通过在基座上分别设置多个治具测试载台，使得整个装置能够适用不同测试治具，更为重要的是，通过在载台上表面设置多组能够进行拆卸的定位柱，当不同类型的测试治具安装到载台上时，能够通过调整定位柱的位置，使其与测试治具上的定位孔适配，实现对不同类型测试治具的定位固定，进一步提高了整个装置的适应性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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