芯片测试台

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201821885704.1
IPC分类号：G01R1/04;G01R31/28;G01S7/40
申请日期：
2018-11-15
申请人：
南京思维斯精密机械制造有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	芯片测试台
申请号	CN201821885704.1	申请日期	2018-11-15
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;S;7;/;4;0查看分类表>
申请人	南京思维斯精密机械制造有限公司	申请人地址	江苏省南京市白下区太平南路58号318室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南京思维斯精密机械制造有限公司	当前权利人	南京思维斯精密机械制造有限公司
发明人	陈永和;姚建飞;李自力
代理机构	北京联瑞联丰知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	黄冠华

摘要

本实用新型公开了一种芯片测试台，包括底座，所述的底座上设有相对设置的第一测试组件和第二测试组件，且两者之间设有用于调节上下高度的升降装置；所述的第一测试组件上端设有相对设置的两个用于夹持测试电缆的第一夹座，所述的第二测试组件上端设有一个第二夹座；所述的第一测试组件和第二测试组件从下往上均设有用于左右水平移动的第一位移装置和用于前后水平移动的第二位移装置。本实用新型通过设置升降装置，可用于左右水平移动的第一位移装置和用于前后水平移动的第二位移装置，实现六个方向的可调式准确定位，测试人员在测试的时候可以保证芯片的测试效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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