基于散射效应的成像光谱仪及高空间分辨率光谱成像方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201811509864.0
IPC分类号：G01J3/28;G01J3/44;G01J3/02
申请日期：
2018-12-11
申请人：
南京邮电大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	基于散射效应的成像光谱仪及高空间分辨率光谱成像方法
申请号	CN201811509864.0	申请日期	2018-12-11
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-05-03	公开/公告号	CN109708757A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;J;3;/;4;4;;;G;0;1;J;3;/;0;2查看分类表>
申请人	南京邮电大学	申请人地址	江苏省南京市文苑路9号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南京邮电大学	当前权利人	南京邮电大学
发明人	杨涛;黄维;彭靖骁;何浩培
代理机构	南京纵横知识产权代理有限公司	代理人	母秋松;董建林

摘要

本发明公开了一种基于散射效应的成像光谱仪及高空间分辨率光谱成像方法；成像光谱仪包括前置器件、散射器件、准直器件、阵列式探测芯片、控制器件、数据计算与分析系统；本发明所公开的成像光谱仪通过控制器件控制散射器件，不同控制条件下同一个像素元所探测到的光强度互不相同，代入到矩阵方程计算光谱，可通过控制器件输出更多的控制参数，实现更高的光谱分辨率；由于阵列式探测芯片上的像素元数量较多，通过对待测目标进行区域划分，每个像素元都可以用来作为单独的探测器对待测成像区域的不同子单元区域进行光谱测量，因此光谱成像的空间分辨率较高。与传统成像光谱仪相比，本发明所公开的成像光谱仪体积较小，成本较低，性能较高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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