一种电子电器环境腐蚀性特性探测电路及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910769298.5
IPC分类号：G01N17/02
申请日期：
2019-08-20
申请人：
北京科技大学

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著录项信息

专利名称	一种电子电器环境腐蚀性特性探测电路及方法
申请号	CN201910769298.5	申请日期	2019-08-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-12-06	公开/公告号	CN110542647A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N17/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N17/00 测试材料的耐气候，耐腐蚀，或耐光照性能 G01N17/02 用于大气侵蚀、腐蚀或防腐测量中的电化学测量系统（G01N 17/04优先）〔5〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;7;/;0;2查看分类表>
申请人	北京科技大学	申请人地址	北京市海淀区学院路30号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京科技大学	当前权利人	北京科技大学
发明人	程学群;李晓刚;董超芳;张达威
代理机构	北京市广友专利事务所有限责任公司	代理人	张仲波

摘要

本发明提供一种电子电器环境腐蚀性特性探测电路及方法，该电路包括：环境敏感元件、MCU控制模块、供电模块、通讯模块和数据处理系统；其中，MCU控制模块设置有检测接口，检测接口用于连接环境敏感元件，供电模块与MCU控制模块电连接，MCU控制模块通过通讯模块与数据处理系统通信连接；供电模块用于为MCU控制模块供电，MCU控制模块用于当环境敏感元件处于待测环境中时，在预设检测周期内对检测接口两端的电压值进行检测，并通过检测到的电压值换算成环境敏感元件的输出电流，实现对环境腐蚀性特性的监测，本发明的方案具有可快速探测环境腐蚀性特性，并可实现连续监测的特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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