一种高精度的光照强度测量方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202111109002.0
IPC分类号：G01J1/00
申请日期：
2021-09-22
申请人：
陕西中天盛隆智能科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种高精度的光照强度测量方法及装置
申请号	CN202111109002.0	申请日期	2021-09-22
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-19	公开/公告号	CN113670436A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00）	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;0;0查看分类表>
申请人	陕西中天盛隆智能科技有限公司	申请人地址	陕西省西安市国家民用航天产业基地神舟六路与航拓路十字东南丝路慧谷街区4号楼3层B306 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	陕西中天盛隆智能科技有限公司	当前权利人	陕西中天盛隆智能科技有限公司
发明人	李征;赵一帆
代理机构	西安鼎迈知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	刘喜保

摘要

本发明公开了一种高精度的光照强度测量方法及装置，由于光线是矢量，光传感器所得到的光强不仅与光源的本身的发光强度有关，也与光线和传感器的角度有关，所以本发明的方法包括：测量六个互相垂直平面上的光照强度；根据每个测量平面上的光照强度确定总光照强度。本发明通过对六个相互垂直的测量平面上光照强度的测量，可以精确的计算出总的光照强度，且计算结果不受光照角度、光源移动如太阳位置的影响，能够为人们提供准确、可靠的总光强度，并可为室外活动提供有用的建议。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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