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DEFECTOARRAY

已注册

申请号: G1176046

申请日期: 2013-10-08

申请人: FELIX FORSTER

国际分类: 9类-科学仪器

服务项:

0901上述产品的零部件、软件,包括录制在数据载体上的软件,即用于控制电子设备和评价上述的信息、用于控制电子设备和评估其信息的电子数据处理设备;

0910上述产品的零部件、用于上述设备的探测器、传感器、检测头以及探测线圈、用于测量电气、磁性以及其他物理性能的电子设备、用于检测传导材料的设备,尤其是金属材料,即材料的缺陷、表面缺陷以及材料的不均匀性的检测设备、用于材料无损检测的电子设备,尤其是使用涡流检测;

0913上述产品的零部件、用于上述设备的探测器、传感器、检测头以及探测线圈;

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基本信息

商标名称 DEFECTOARRAY
申请号 G1176046 国际分类 9类-科学仪器 商标分类表
商标状态 已注册 申请日期 2013-10-08
申请人 FELIX FORSTER   FELIX FORSTER 查看此申请人的商标分析报告
代理机构 国际局 查看此代理机构下的所有商标
商标类型 普通商标 是否共有商标 否
专用权期限 2023-08-05至2033-08-05 国际注册日期 暂无
后期指定日期 暂无 优先权日期 暂无

商品信息

商品与服务项

【0901】上述产品的零部件

【0901】软件,包括录制在数据载体上的软件,即用于控制电子设备和评价上述的信息

【0901】用于控制电子设备和评估其信息的电子数据处理设备

【0910】上述产品的零部件

【0910】用于上述设备的探测器、传感器、检测头以及探测线圈

【0910】用于测量电气、磁性以及其他物理性能的电子设备

【0910】用于检测传导材料的设备,尤其是金属材料,即材料的缺陷、表面缺陷以及材料的不均匀性的检测设备

【0910】用于材料无损检测的电子设备,尤其是使用涡流检测

【0913】上述产品的零部件

【0913】用于上述设备的探测器、传感器、检测头以及探测线圈

申请类似群 无 未申请类似群 无

申请人信息

申请类型 企业 地区商标 巴登-符腾堡商标注册
申请人名称 FELIX FORSTER(FELIX FORSTER)
申请人地址 Panoramastrasse 73 72766 Reutlingen***(Panoramastrasse 73 72766 Reutlingen (DE))

流程信息

2023-09-19 国际续展-申请核准审核

2023-09-05 国际续展-申请收文

2014-12-24 领土延伸-审查

2013-10-08 领土延伸-申请收文

公告信息

初审公告期号 暂无 初审公告日期 暂无
注册公告期号 暂无 注册公告日期 暂无

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