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ONTO INNOVATION
待审中申请号: G1659001H
申请日期: 2024-01-04
申请人: ONTO INNOVATION INC.
国际分类: 9类-科学仪器
基本信息
| 商标名称 | ONTO INNOVATION | ||
| 申请号 | G1659001H | 国际分类 | 9类-科学仪器 商标分类表 |
| 商标状态 | 待审中 | 申请日期 | 2024-01-04 |
| 申请人 | ONTO INNOVATION INC. ONTO INNOVATION INC. 查看此申请人的商标分析报告 | ||
| 代理机构 | 国际局 查看此代理机构下的所有商标 | ||
| 商标类型 | 普通商标 | 是否共有商标 | 否 |
| 专用权期限 | 2023-12-15至2031-07-09 | 国际注册日期 | 暂无 |
| 后期指定日期 | 暂无 | 优先权日期 | 暂无 |
商品信息
| 商品与服务项 |
【0901】下述用途的光学计量、表征和检查系统,其包括成套出售的机器、组件和操作软件,即用于测试光学部件的透射波前和表面形状、光学、金属、半导体、陶瓷、塑料、油漆和其他精细加工材料的表面粗糙度,以及航空航天、汽车、发电、半导体、数据存储、轴承、增材制造和其他精密加工部件中零部件的缺陷和几何形状 【0901】以下用途的光学计量、表征和检查系统用操作软件:生产精密加工的光学表面、光学涂层和光学装配件,包括参考平面、球面、非球面和由折射和反射组件构成的装配件 【0901】可下载的软件,即下述用途的过程控制和缺陷分析软件,即用于生产包括分立电子部件的层状衬底、包括非易失性和易失性存储器件的半导体、铸造和逻辑器件、asic器件、cmos图像传感器、微机电系统、发光二极管和其他微纳技术器件、封装系统、异质封装以及其他先进的封装电子技术 【0901】以下用途的光学计量、表征和检查系统用操作软件:生产层状基板(包括分立电子组件)、半导体(包括非易失性和易失性存储器装置)、铸造和逻辑装置、asic(专用集成电路)装置、cmos(互补金属氧化物半导体)图像传感器、微机电系统、发光二极管以及其他微纳米技术装置、封装、异质封装和其他先进封装电子技术用系统 【0910】下述用途的光学计量、表征和检查系统,其包括成套出售的机器、组件和操作软件,即用于测试光学部件的透射波前和表面形状、光学、金属、半导体、陶瓷、塑料、油漆和其他精细加工材料的表面粗糙度,以及航空航天、汽车、发电、半导体、数据存储、轴承、增材制造和其他精密加工部件中零部件的缺陷和几何形状 【0910】干涉仪,其用于测试光学部件的透射波前和表面形状、光学、金属、半导体、陶瓷、塑料、油漆和其他精细加工材料的表面粗糙度,以及航空航天、汽车、发电、半导体、数据存储、轴承、增材制造和其他精密加工部件中零部件的缺陷和几何形状 【0911】干涉仪,其用于测试光学部件的透射波前和表面形状、光学、金属、半导体、陶瓷、塑料、油漆和其他精细加工材料的表面粗糙度,以及航空航天、汽车、发电、半导体、数据存储、轴承、增材制造和其他精密加工部件中零部件的缺陷和几何形状 |
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| 申请类似群 | 无 | 未申请类似群 | 无 |
申请人信息
| 申请类型 | 企业 | 地区商标 | 马萨诸塞商标注册 |
| 申请人名称 | ONTO INNOVATION INC.(ONTO INNOVATION INC.) | ||
| 申请人地址 | 16 Jonspin Road Wilmington MA ***(16 Jonspin Road Wilmington MA 01887) | ||
流程信息
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2025-04-02 驳回复审-实审裁文发文 2024-07-06 驳回复审-申请收文 2024-06-20 领土延伸-驳回电子发文 2024-01-04 领土延伸-申请收文 |
公告信息
| 初审公告期号 | 暂无 | 初审公告日期 | 暂无 |
| 注册公告期号 | 暂无 | 注册公告日期 | 暂无 |