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RUDOLPH
待审中申请号: G1666899
申请日期: 2022-06-16
申请人: ONTO INNOVATION INC.
国际分类: 9类-科学仪器
基本信息
| 商标名称 | RUDOLPH | ||
| 申请号 | G1666899 | 国际分类 | 9类-科学仪器 商标分类表 |
| 商标状态 | 待审中 | 申请日期 | 2022-06-16 |
| 申请人 | ONTO INNOVATION INC. ONTO INNOVATION INC. 查看此申请人的商标分析报告 | ||
| 代理机构 | 国际局 查看此代理机构下的所有商标 | ||
| 商标类型 | 普通商标 | 是否共有商标 | 否 |
| 专用权期限 | 暂无 | 国际注册日期 | 暂无 |
| 后期指定日期 | 暂无 | 优先权日期 | 暂无 |
商品信息
| 商品与服务项 |
【0901】可下载的软件,即下述用途的过程控制和缺陷分析软件,即用于生产包括分立电子部件的层状衬底、包括非易失性和易失性存储器件的半导体、铸造和逻辑器件、asic器件、cmos图像传感器、微机电系统、发光二极管和其他微纳技术器件、封装系统、异质封装以及其他先进的封装电子技术 【0901】下述用途的光学计量、表征和检查系统,其包括成套出售的机器、组件和操作软件,即用于测试光学部件的透射波前和表面形状、光学、金属、半导体、陶瓷、塑料、油漆和其他精细加工材料的表面粗糙度,以及航空航天、汽车、发电、半导体、数据存储、轴承、增材制造和其他精密加工部件中零部件的缺陷和几何形状 【0910】下述用途的光学计量、表征和检查系统,其包括成套出售的机器、组件和操作软件,即用于测试光学部件的透射波前和表面形状、光学、金属、半导体、陶瓷、塑料、油漆和其他精细加工材料的表面粗糙度,以及航空航天、汽车、发电、半导体、数据存储、轴承、增材制造和其他精密加工部件中零部件的缺陷和几何形状 【0910】主要基于光学显微镜、电子显微镜、分光光度计、椭偏仪和扫描狭缝式密度计技术的计量用科学仪器,即用于测量样品物理尺寸和沉积膜厚度或用于分析材料化学成分的装置 【0910】干涉仪,其用于测试光学部件的透射波前和表面形状、光学、金属、半导体、陶瓷、塑料、油漆和其他精细加工材料的表面粗糙度,以及航空航天、汽车、发电、半导体、数据存储、轴承、增材制造和其他精密加工部件中零部件的缺陷和几何形状 |
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| 申请类似群 | 无 | 未申请类似群 | 无 |
申请人信息
| 申请类型 | 企业 | 地区商标 | 马萨诸塞商标注册 |
| 申请人名称 | ONTO INNOVATION INC.(ONTO INNOVATION INC.) | ||
| 申请人地址 | 16 Jonspin Road Wilmington MA ***(16 Jonspin Road Wilmington MA 01887) | ||
流程信息
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2023-10-18 驳回复审-实审裁文发文 2022-12-15 驳回复审-申请收文 2022-12-01 领土延伸-驳回电子发文 2022-06-16 领土延伸-申请收文 |
公告信息
| 初审公告期号 | 暂无 | 初审公告日期 | 暂无 |
| 注册公告期号 | 暂无 | 注册公告日期 | 暂无 |