基本信息
| 商标名称 | TEL | ||
| 申请号 | G1737071 | 国际分类 | 9类-科学仪器 商标分类表 |
| 商标状态 | 待审中 | 申请日期 | 2023-06-29 |
| 申请人 | TOKYO ELECTRON LIMITED TOKYO ELECTRON LIMITED 查看此申请人的商标分析报告 | ||
| 代理机构 | 国际局 查看此代理机构下的所有商标 | ||
| 商标类型 | 普通商标 | 是否共有商标 | 否 |
| 专用权期限 | 暂无 | 国际注册日期 | 暂无 |
| 后期指定日期 | 暂无 | 优先权日期 | 暂无 |
商品信息
| 商品与服务项 |
【0901】用于测量、监控和控制半导体制造机器的计算机管理装置 【0901】用于半导体制造机器的可下载计算机软件 【0901】用于测量、监控和控制半导体制造机器的管理装置用可下载计算机软件 【0901】用于测量、监控和控制半导体检查设备的管理装置用可下载计算机软件 【0901】可下载计算机软件 【0901】用于平板显示器制造机器的可下载计算机软件 【0901】用于测量、监控和控制半导体检查设备的计算机管理装置 【0901】用于测量、监控和控制半导体制造机器的计算机管理装置的构件和配件 【0901】用于半导体检测装置的可下载计算机软件 【0901】用于测量、监控和控制半导体检查设备的计算机管理装置的构件和配件 【0901】用于测量、监控和控制平板显示器制造机器的计算机管理装置 【0901】用于测量、监控和控制平板显示器制造机器的计算机管理装置的构件和配件 【0901】用于控制半导体制造过程的可下载的计算机软件 【0901】用于控制平板显示器制造过程的可下载计算机软件 【0901】用于测量、监控和控制平板显示器制造机器的管理装置用可下载计算机软件 【0904】测量机器和仪器 【0904】用于测试和检测半导体、集成电路和微电子的物理性能和电气性能的光学和电子测量或测试机器和仪器 【0905】用于测试和检测半导体、集成电路和微电子的物理性能和电气性能的光学和电子测量或测试机器和仪器 【0905】测量机器和仪器 【0907】电气通信机器和仪器 【0910】半导体检验设备及其零部件和配件 【0910】用于测试和检测半导体、集成电路和微电子的物理性能和电气性能的光学和电子测量或测试机器和仪器 【0910】遥控遥测设备 【0910】测量机器和仪器 【0913】遥控遥测设备 【0913】半导体器件 【0913】印刷电路板 【0913】半导体 |
||
| 申请类似群 | 无 | 未申请类似群 | 无 |
申请人信息
| 申请类型 | 企业 | 地区商标 | 东京都商标注册 |
| 申请人名称 | TOKYO ELECTRON LIMITED(TOKYO ELECTRON LIMITED) | ||
| 申请人地址 | 3-1 Akasaka 5-chome， Minato-ku Tokyo 107***(3-1 Akasaka 5-chome， Minato-ku Tokyo 107-6325) | ||
流程信息
|
2026-06-12 出具商标注册证明-发送注册证明 2026-06-04 出具商标注册证明-申请收文 2026-06-04 出具商标注册证明-缴费通知 2024-05-11 驳回复审-申请收文 2024-04-25 领土延伸-驳回电子发文 2023-06-29 领土延伸-申请收文 |
公告信息
| 初审公告期号 | 暂无 | 初审公告日期 | 暂无 |
| 注册公告期号 | 暂无 | 注册公告日期 | 暂无 |
