一种滑轨多参数测量方法以及测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201910578191.2
IPC分类号：G06T7/155;G06T7/187;G06T7/66;G01B11/02
申请日期：
2019-06-28
申请人：
佛山科学技术学院

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著录项信息

专利名称	一种滑轨多参数测量方法以及测量装置
申请号	CN201910578191.2	申请日期	2019-06-28
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-10-18	公开/公告号	CN110349174A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/155 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕 G06T7/10 分割；边缘检测（基于运动的分割入G06T 7/215）〔2017.01〕 G06T7/155 涉及形态学算子的〔2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;1;5;5;;;G;0;6;T;7;/;1;8;7;;;G;0;6;T;7;/;6;6;;;G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	佛山科学技术学院	申请人地址	广东省佛山市南海区狮山镇广云路33号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	佛山科学技术学院	当前权利人	佛山科学技术学院
发明人	易俊;陈韦兆;曾亚光;韩定安;王茗祎;周月霞;张尚贤;冯俊键
代理机构	广州嘉权专利商标事务所有限公司	代理人	蔡伟杰

摘要

本发明公开了一种滑轨多参数测量方法以及测量装置，测量方法包括驱动待测样品移动，采集待测样品移动过程中的多个样品图像；将样品图像中所存在的图像孤立点滤除；采用区域生长算法对样品图像进行图像分割操作，将待测图片中的样品区域提取出来，形成多个待测图像；采用拼接算法对待测图像执行图像拼接操作，获取待测样品的整体图像；基于点拼接处理，根据所述整体图像，计算待测样品的各项参数。本发明通过拼接算法实现多个待测图像的拼接操作，将多个待测图像拼接在一起形成一个包含有整个待测样品的整体图像，之后基于点拼接计算待测样品的各项参数，整个计算过程计算量低，参数检测精度高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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