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利用层析X-射线照相系统获取图像的方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN99104171.2
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    1999-03-22
  • 申请人:
    三星电子株式会社
著录项信息
专利名称利用层析X-射线照相系统获取图像的方法
申请号CN99104171.2申请日期1999-03-22
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2000-01-12公开/公告号CN1240948
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人三星电子株式会社申请人地址
韩国京畿道 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人三星电子株式会社当前权利人三星电子株式会社
发明人金亨哲;金晋永
代理机构柳沈知识产权律师事务所代理人陶凤波
摘要
一采用层析X-射线照相系统并通过对先前获取的截面图像数据进行计算获取图像的方法,其不需将物体移动,或反复在物体上照射。其步骤为:获得物体参考截面图像,获得物体其他截面假想过渡截面图像,得到假想过渡截面图像的中心点。通过合成假想过渡截面图像以便在中心点D聚焦并平均,得到物体另外截面的图像。其可迅速获得物体的多个截面图像,适于医院的CT扫描,印刷电路板,电子元件,和机械零件的检测过程采用。

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