一种采集光谱的方法和装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201010622395.0
IPC分类号：G01J3/28
申请日期：
2010-12-31
申请人：
聚光科技（杭州）股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种采集光谱的方法和装置
申请号	CN201010622395.0	申请日期	2010-12-31
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-09-07	公开/公告号	CN102175317A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;8查看分类表>
申请人	聚光科技（杭州）股份有限公司	申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨安路760号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	聚光科技（杭州）股份有限公司	当前权利人	聚光科技（杭州）股份有限公司
发明人	吕全超;寿淼钧
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种采集光谱的方法，包括以下步骤：a、在T0时刻，给出同步信号；根据所述同步信号和延时采集时间，得出光谱采集时刻T1；b、在T1时刻，将CCD传感器阵列中的T1时刻之前累积的光生电荷转移到寄存器中，并开始清除所述寄存器中的数据；开始采集光谱，CCD传感器阵列中重新累积电荷；c、在T2时刻，光谱采集结束，所述寄存器中的数据已清除完毕；在T1时刻到T2时刻内仅有一个光谱脉冲出现；将CCD传感器阵列中T1时刻到T2时刻累积的光生电荷转移到所述寄存器中；d、读取寄存器中的数据，从而得到从T1时刻到T2时刻内的光谱强度A1。本发明还公开了一种实现上述方法的装置。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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