用于瓷砖尺寸检测的上光源斜照式图像采集新方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210231083.6
IPC分类号：G01B11/00;G01B11/26
申请日期：
2012-07-05
申请人：
武汉轻工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	用于瓷砖尺寸检测的上光源斜照式图像采集新方法
申请号	CN201210231083.6	申请日期	2012-07-05
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2013-12-18	公开/公告号	CN103453834A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人	武汉轻工大学	申请人地址	湖北省武汉市东西湖区常青花园学府南路68号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉轻工大学	当前权利人	武汉轻工大学
发明人	郭峰林;管庶安;田魁;胡尧俊
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

用于瓷砖尺寸检测的上光源斜照式图像采集新方法。本发明属于图像采集技术领域，涉及一种基于上光源斜照式的瓷砖边角图像采集新方法。本方法利用瓷砖面与传输皮带间的高度差，光源从瓷砖面到皮带面进行斜照时，会在皮带面上形成阴影暗区，利用这一阴影暗区将瓷砖边角突出出来，形成清晰的轮廓。由于暗区是瓷砖阴影形成，即使皮带上有水、皮带磨损等情况发生，暗区依然存在。另外，瓷砖倒边角与否也不影响瓷砖边角成像质量。该方法应用于瓷砖尺寸检测系统中可以提高参数检测的准确性和稳定性，而且特别适用于不能采用下光源方法进行图像采集或者采用传统上光源进行图像采集时难以克服的水干扰和倒边角干扰问题的瓷砖尺寸检测场合。

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