加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

MS/MS型质谱分析方法以及MS/MS型质谱分析装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201480079919.2
  • IPC分类号:H01J49/42
  • 申请日期:
    2014-06-16
  • 申请人:
    株式会社岛津制作所
著录项信息
专利名称MS/MS型质谱分析方法以及MS/MS型质谱分析装置
申请号CN201480079919.2申请日期2014-06-16
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-02-22公开/公告号CN106463339A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01J49/42IPC分类号H;0;1;J;4;9;/;4;2查看分类表>
申请人株式会社岛津制作所申请人地址
日本京都府 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株式会社岛津制作所当前权利人株式会社岛津制作所
发明人梅村佳克
代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)代理人刘新宇
摘要
在对源自目标成分的多价离子进行MS/MS分析时,当分析者经由输入部(20)输入脱离碎片的质量值(mLoss)、脱离碎片的价数(zLoss)、前体离子的价数(zPrec)以及产物离子的价数(zProd)中的至少两个值时,价数计算部(221)基于zPrec=zProd+zLoss的关系来计算未输入的价数(zPrec或zProd)。当开始进行MS/MS分析时,前体离子m/z设定部(222)设定通过前级四极杆滤质器(13)的离子的m/z=MPrec,通过产物离子m/z计算部(223)将上述MPrec、mLoss、zPrec以及zProd应用于MProd=(MPrec×zPrec‑mLoss)/zProd的关系式,来计算通过后级四极杆滤质器(16)的产物离子的m/z=MProd。由此,即使在脱离碎片不是中性的情况下,也能够调查质量为mLoss、价数为zLoss的特定的带电碎片脱离那样的前体离子和产物离子的对。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供