检测在单和双套管柱环境的环形材料中的异常

发明专利有效专利

申请号：
CN201880027788.1
IPC分类号：G01V5/12
申请日期：
2018-02-23
申请人：
菲利普·蒂格;亚历克斯·斯图尔特

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	检测在单和双套管柱环境的环形材料中的异常
申请号	CN201880027788.1	申请日期	2018-02-23
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-12-06	公开/公告号	CN110546535A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01V5/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01V 地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物（用于指示因事故被掩埋的人的位置，例如，被雪掩埋的人的位置的装置入A63B 29/02）〔4，6〕 G01V5/00 应用核辐射进行勘探或探测，例如，利用天然的或诱导的放射性 G01V5/04 专用于测井记录〔3〕 G01V5/08 利用初级核辐射源或X射线〔3〕 G01V5/12 利用γ射线或X射线源〔3〕	IPC分类号	G;0;1;V;5;/;1;2查看分类表>
申请人	菲利普·蒂格;亚历克斯·斯图尔特	申请人地址	美国德克萨斯州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	菲利普·蒂格,亚历克斯·斯图尔特	当前权利人	菲利普·蒂格,亚历克斯·斯图尔特
发明人	菲利普·蒂格;亚历克斯·斯图尔特
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	危凯权;金飞

摘要

提供一种用于在单、双和多套管井眼环境内测量材料体积密度的基于x射线的水泥评估工具，该工具至少包括内部长度，该内部长度包括探测器区段，其中所述探测器区段还包括x射线源；用于辐射测量检测器的辐射屏蔽；依赖探测器的电子器件；以及多个工具逻辑电子器件和PSU，其中该工具使用x射线来照射井眼周围的地层，且多个检测器用来直接测量水泥环的密度和其内密度中的任何变化。检测器用来测量套管偏位，使得其它检测器响应补偿工具偏位和集中；多个参考检测器用来监测x射线源的输出，且最短轴向偏移检测器配置成将入射光子分布到能量分类中，使得可进行光电测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供