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单片集成的CMOS加MEMS的微加热器及制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811631727.4
  • IPC分类号:B81B7/00;B81B7/02;B81C1/00
  • 申请日期:
    2018-12-29
  • 申请人:
    杭州北芯传感科技有限公司
著录项信息
专利名称单片集成的CMOS加MEMS的微加热器及制备方法
申请号CN201811631727.4申请日期2018-12-29
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-03-15公开/公告号CN109467044A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B81B7/00IPC分类号B;8;1;B;7;/;0;0;;;B;8;1;B;7;/;0;2;;;B;8;1;C;1;/;0;0查看分类表>
申请人杭州北芯传感科技有限公司申请人地址
浙江省杭州市萧山区经济技术开发区启迪路198号B-3A02-20 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人杭州北芯传感科技有限公司当前权利人杭州北芯传感科技有限公司
发明人李晓波;蒋一博
代理机构北京方安思达知识产权代理有限公司代理人王宇杨
摘要
本发明公开了单片集成的CMOS加MEMS的微加热器及制备方法,所述集成CMOS加MEMS的热膜结构微加热器包括:在CMOS结构表面形成的绝热层;在绝热层表面形成的绝缘层Ⅰ;在绝热层及绝缘层Ⅰ上干法刻蚀出用于与电极柱子连接的pad的开口;在绝缘层Ⅰ表面形成的电极柱子;在电极柱子之间形成空腔及悬空加热结构;加热结构由下到上依次为支撑层,绝缘层,台阶结构层,加热层及钝化层;绝缘层覆盖在支撑层上;台阶结构层位于所述绝缘层上;加热层覆盖在含所述支撑层,绝缘层、台阶结构层的复合结构上、并覆盖电极柱子的上表面;钝化层覆盖所述加热层;所述绝热层的CMOS/ASIC电路与电极柱子连接;绝缘层Ⅰ、电极柱子、支撑层共同形成悬空加热器结构的空腔。

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