一种检测设备及检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310393003.1
IPC分类号：G02F1/13;G01B11/00
申请日期：
2013-09-02
申请人：
京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种检测设备及检测方法
申请号	CN201310393003.1	申请日期	2013-09-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-12-25	公开/公告号	CN103472601A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G02F1/13 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G02 光学 G02F 用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器〔2，4〕 G02F1/00 控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如，转换、选通或调制；非线性光学〔2，4〕 G02F1/01 对强度、相位、偏振或颜色的控制（G02F 1/29、G02F 1/35优先）〔2，7〕 G02F1/13 基于液晶的，例如单位液晶显示单元〔2〕	IPC分类号	G;0;2;F;1;/;1;3;;;G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司	申请人地址	北京市朝阳区酒仙桥路10号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	京东方科技集团股份有限公司,北京京东方显示技术有限公司	当前权利人	京东方科技集团股份有限公司,北京京东方显示技术有限公司
发明人	蔡培
代理机构	北京同达信恒知识产权代理有限公司	代理人	黄志华

摘要

本发明涉及阵列检测技术领域，公开了一种检测设备及检测方法，包括：探针总成ProbeAssembly，每一个探针总成上具有用于与被检测器件的检测接触层接触、且加载检测信号的探针Pin；装载所述探针的探针总成载台；采集单元，用于采集所述检测接触层的位置信息；与所述采集单元信号连接的信号处理单元，当所述信号处理单元根据所述采集单元采集的位置信息判断该采集单元对应的探针总成中的探针与对应检测接触层之间对位不准时生成调节信息。上述检测设备在接触检测过程中，探针总成的探针与接触层接触时，每一个探针总成的探针与对应的接触层之间的接触良好，能够很好地完成接触检测，提高生产效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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