一种基于改进自适应重要抽样的性能可靠性仿真方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201010585014.6
IPC分类号：G06F17/50
申请日期：
2010-12-13
申请人：
北京航空航天大学

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著录项信息

专利名称	一种基于改进自适应重要抽样的性能可靠性仿真方法
申请号	CN201010585014.6	申请日期	2010-12-13
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-05-18	公开/公告号	CN102063524A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F17/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F17/00 特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法〔6〕 G06F17/50 计算机辅助设计（静态存储的测试电路的设计入G11C 29/54）〔6，8〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;7;/;5;0查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号北航可靠性与系统工程学院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	马纪明;詹晓燕;曾声奎;任羿;郭健彬;孙博;冯强
代理机构	北京慧泉知识产权代理有限公司	代理人	王顺荣;唐爱华

摘要

一种基于改进自适应重要抽样的性能可靠性仿真方法，该方法依照下述四个阶段进行：第一阶段：抽取初始失效样本，以参数原始均值为采样中心，原始方差的1-3倍为采样协方差，进行随机搜索，并通过迭代找到初始失效样本；第二阶段：抽取一批失效样本，以第一阶段搜索到的失效样本作为第二阶段的初始采样中心进行随机抽样，并在下一次的循环中，调整采样中心，循环至抽取到指定数目的失效样本；第三阶段：自适应重要抽样，根据第二阶段抽取到的失效样本，计算第三阶段的初始采样中心和初始采样协方差，进行循环抽样仿真；第四阶段：统计计算，完成一次抽样后，重新计算采样中心和采样协方差，当失效概率的仿真结果趋于稳定时，停止仿真，完成自适应重要抽样的性能可靠性仿真。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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