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一种辐射腐蚀测试装置及测试方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201910350118.X
  • IPC分类号:G21C17/00
  • 申请日期:
    2019-04-28
  • 申请人:
    东华理工大学
著录项信息
专利名称一种辐射腐蚀测试装置及测试方法
申请号CN201910350118.X申请日期2019-04-28
法律状态实质审查申报国家暂无
公开/公告日2019-07-09公开/公告号CN109994231A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G21C17/00IPC分类号G;2;1;C;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人东华理工大学申请人地址
江西省抚州市学府路56号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人东华理工大学当前权利人东华理工大学
发明人黄希;张彬;陈俊哲;王圣杰;李小燕;韦丽华
代理机构北京风雅颂专利代理有限公司代理人王刚
摘要
本发明公开了一种辐射腐蚀测试装置及测试方法,所述辐射腐蚀测试装置,包括铅制壳体,所述铅制壳体内设置有容置腔;放射源放置架,设置于所述容置腔内;水箱,设置于所述容置腔内,水箱内设置有悬挂点;其中,放置于所述放射源放置架上的放射源产生的射线对固定在悬挂点上的试样产生辐射。本发明中,通过在铅制壳体内设置放射源放置架及水箱,并在水箱内设置材料的悬挂点,能够实现对材料在实际使用工况中收到的辐射与腐蚀情况进行研究。

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