测试系统、分类系统以及测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710087261.5
IPC分类号：H04B17/15;H04B17/29
申请日期：
2017-02-17
申请人：
加特兰微电子科技(上海)有限公司

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著录项信息

专利名称	测试系统、分类系统以及测试方法
申请号	CN201710087261.5	申请日期	2017-02-17
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-08-01	公开/公告号	CN106998234A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04B17/15 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04B 传输〔4〕 H04B17/02 （转入H04B17/40） H04B17/10 发射机的〔2015.01〕 H04B17/15 性能测试〔2015.01〕	IPC分类号	H;0;4;B;1;7;/;1;5;;;H;0;4;B;1;7;/;2;9查看分类表>
申请人	加特兰微电子科技(上海)有限公司	申请人地址	上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区盛夏路666号、银冬路122号5幢地下1层1_10层901室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	加特兰微电子科技(上海)有限公司	当前权利人	加特兰微电子科技(上海)有限公司
发明人	赵宗盛;陈嘉澍;王典;刘洪泉;冯勤
代理机构	北京成创同维知识产权代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明公开了测试系统、分类系统和测试方法。测试系统用于测试待测件，待测件具有至少一个输入端和/或至少一个输出端，测试系统包括输入测试模块，用于根据控制信号产生第一毫米波信号；输出测试模块，用于根据控制信号对第二毫米波信号进行检测；连接模块，用于根据控制信号选定待测件的输入端之一作为第一输入端与输入测试模块相连、选定待测件的输出端之一作为第一输出端与输出测试模块相连，待测件的所述第一输入端与第一输出端具有对应关系；控制模块提供控制信号，并根据采样数据获得待测件的测试结果，以通过预先配置端口等自动化设计达到提高测试精度、兼容能力、可靠性、灵活性以及测试效率的目的，同时也降低了成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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