基于IIC与SPI时序存储器动态老化系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201810081627.2
IPC分类号：G11C29/56
申请日期：
2018-01-29
申请人：
西安西测电子技术服务有限公司

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著录项信息

专利名称	基于IIC与SPI时序存储器动态老化系统
申请号	CN201810081627.2	申请日期	2018-01-29
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-08-06	公开/公告号	CN110097918A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/56 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/56 用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备〔ATE〕；所用接口〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人	西安西测电子技术服务有限公司	申请人地址	陕西省西安市莲湖区丰禾路275号太奥广场商业区11号楼2单元22308室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安西测电子技术服务有限公司	当前权利人	西安西测电子技术服务有限公司
发明人	李泽新;尹楠
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及老化技术领域，尤其涉及基于IIC与SPI时序存储器动态老化系统。主控模块采用单片机作为控制芯片，触感器模块采用DS18B20作为温度传感器反馈温度，报警电路模块包含蜂鸣器，通信模块能够实现通信；所述的主控模块通信连接着显示模块、输入按键模块、传感器模块、报警电路模块、通信模块、继电器模块；主控模块的算法算法采用PID温度控制，预测误差变化趋势，从而可以实现超前调节；经PID控制以后，使得整个老化过程中温度得以有效控制。能够做到高温动态老化，能够使得产品达到国军标对动态老化的标准要求，比如元器件可以耐高温，科学性更好，且能实现动态反馈，智能控制。

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