一种基于体素级轮廓粗定位的亚体素表面检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201110072877.8
IPC分类号：G06T7/00;G06T5/00
申请日期：
2011-03-24
申请人：
西北工业大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种基于体素级轮廓粗定位的亚体素表面检测方法
申请号	CN201110072877.8	申请日期	2011-03-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-07-20	公开/公告号	CN102129686A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;5;/;0;0查看分类表>
申请人	西北工业大学	申请人地址	陕西省西安市友谊西路127号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西北工业大学	当前权利人	西北工业大学
发明人	黄魁东;张定华;查方龙;卜昆;程云勇
代理机构	西北工业大学专利中心	代理人	顾潮琪

摘要

本发明公开了一种基于体素级轮廓粗定位的亚体素表面检测方法，对待处理的连续切片图像进行滤波去噪；生成标记模板与切片图像像素相对应；分配一个检测空间；按一定顺序将切片图像读入检测空间；对切片图像进行阈值分割并按八方向搜索策略进行轮廓提取，得到体素级轮廓点；逐点处理体素级轮廓点，输出亚体素表面轮廓点；判断切片图像是否处理完；将所有切片图像处理所得的亚体素表面轮廓点合并，得到亚体素精度的物体表面点云。本发明可从含有较多噪声和伪影的实际CT连续切片图像中提取完整的、高精度的物体表面点云，并通过标记模板大大减少了计算量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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