基于朴素贝叶斯分类的局部放电诊断方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410768520.7
IPC分类号：G01R31/12;G06F19/00
申请日期：
2014-12-11
申请人：
国家电网公司;国网山东省电力公司电力科学研究院

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著录项信息

专利名称	基于朴素贝叶斯分类的局部放电诊断方法
申请号	CN201410768520.7	申请日期	2014-12-11
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-04-22	公开/公告号	CN104535905A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/12 测试介电强度或击穿电压	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;1;2;;;G;0;6;F;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	国家电网公司;国网山东省电力公司电力科学研究院	申请人地址	北京市西城区西长安街86号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	国家电网公司,国网山东省电力公司电力科学研究院	当前权利人	国家电网公司,国网山东省电力公司电力科学研究院
发明人	郭志红;陈玉峰;路光辉;王辉;杜修明;雍明超;周钟;牧继清;姬波
代理机构	济南圣达知识产权代理有限公司	代理人	张勇

摘要

本发明公开了一种基于朴素贝叶斯分类的局部放电诊断方法，包括：进行数据采集，然后对采集的信号进行抗干扰处理；将处理后的信号转存为一个二维数组，根据PRPS图谱分别得到PRPD图谱、N‑P图谱和Q‑P图谱；分别在所述PRPD图谱、N‑P图谱和Q‑P图谱上进行特征提取；利用等宽离散化方法或者等频率离散化方法对特征提取后的数据进行离散化；利用朴素贝叶斯得到局部放电的故障类别。本发明有益效果：本发明的诊断方法正确率为80.5％，可以满足现场的实际应用。同时，对等宽和等频两类典型的无监督的离散化方法做了详细的研究，指出等频离散化方法优于等宽离散化方法，并给出了等频离散化方法最优的经验值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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