一种非侵入式半透明成像装置的成像方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510299810.6
IPC分类号：G01N21/64;G06T7/00
申请日期：
2015-06-03
申请人：
清华大学深圳研究生院

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著录项信息

专利名称	一种非侵入式半透明成像装置的成像方法
申请号	CN201510299810.6	申请日期	2015-06-03
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-08-26	公开/公告号	CN104865234A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/64 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/64 荧光；磷光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;4;;;G;0;6;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人	清华大学深圳研究生院	申请人地址	广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学深圳研究生院	当前权利人	清华大学深圳研究生院
发明人	金欣;魏开运;戴琼海
代理机构	深圳新创友知识产权代理有限公司	代理人	杨洪龙

摘要

一种非侵入式半透明成像装置的成像方法，包括如下步骤：依次改变激光与所述非侵入式半透明成像装置的垂直轴之间的夹角θ，每次改变角度差Δθ，并使激光穿过所述半透明介质，在所述荧光物体上形成对应的荧光，所述荧光采集装置等间距分别采集每个夹角θ对应的荧光，得到采样荧光强度矩阵Ys_new；其中，所述角度差Δθ是的大于等于2的设定整数倍，其中，λ和w分别为激光波长和激光束直径；根据所述采样荧光强度矩阵Ys_new重建得到重建的荧光强度矩阵满足根据所述重建的荧光强度矩阵重建所述荧光物体的图像。本发明使非侵入式半透明成像过程更加高效。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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