基于激光全息成像法分析颗粒形状的装置及其工作方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201610207512.4
IPC分类号：G01N15/02
申请日期：
2016-04-01
申请人：
黄恺

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著录项信息

专利名称	基于激光全息成像法分析颗粒形状的装置及其工作方法
申请号	CN201610207512.4	申请日期	2016-04-01
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-06-08	公开/公告号	CN105651656A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕 G01N15/02 测试颗粒的粒度或粒经分布（G01N 15/04，G01N 15/10优先；通过测定渗透压力入G01N 7/10；）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;0;2查看分类表>
申请人	黄恺	申请人地址	四川省成都市高新区天府大道中段177号25栋1单元1003号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	黄恺	当前权利人	黄恺
发明人	蒋勇刚;黄恺
代理机构	成都顶峰专利事务所（普通合伙）	代理人	任远高

摘要

本发明涉及颗粒分析技术领域，公开了一种基于激光全息成像法分析颗粒形状的装置及其工作方法。所述装置包括激光器、显微镜头、光阑、透明观测件和图像传感器，其中，所述透明观测件中开有流体出入孔道。利用激光全息成像法直接对待测流体中的颗粒进行经干涉作用而产生的全息成像信息，然后对全息成像信息进行数据反演处理，即可得到反映颗粒形状的空间成像信息，由此无需使用滤膜，可避免样品受到污染，进而可以减小测量误差和耗材费用，简化设备的操作过程。此外，所述装置还具有实时性强、颗粒分辨率高和检测对象广的优点，便于实际应用和推广。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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