一种功率敏感物质的拉曼荧光干扰的消除方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201511005996.6
IPC分类号：G01N21/65
申请日期：
2015-12-29
申请人：
北京华泰诺安探测技术有限公司

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专利名称	一种功率敏感物质的拉曼荧光干扰的消除方法
申请号	CN201511005996.6	申请日期	2015-12-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-06-01	公开/公告号	CN105628675A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/65 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/65 喇曼散射〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;5查看分类表>
申请人	北京华泰诺安探测技术有限公司	申请人地址	北京市顺义区临空经济核心区裕华路28号5号楼4层002室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京华泰诺安探测技术有限公司	当前权利人	北京华泰诺安探测技术有限公司
发明人	牟涛涛;熊胜军;赵喜;袁丁;夏征
代理机构	北京名华博信知识产权代理有限公司	代理人	李冬梅;苗源

摘要

本发明提供一种功率敏感物质的拉曼荧光干扰的消除方法，用于解决拉曼光谱测量中的荧光干扰问题。所述方法包括：获取第一功率条件下待测样品的第一拉曼荧光混合信号；获取在大于所述第一功率的第二功率条件下待测样品的第二拉曼荧光混合光谱；将第二拉曼荧光混合光谱中的拉曼信号视为噪声，采用小波去噪的方式进行去噪处理，获得单一荧光信号，将标准化的所述第一拉曼荧光混合光谱和去噪后的荧光信号的幅值进行消荧光处理，获得所述待测样品的拉曼光谱。应用本发明，可以有效消除功率敏感物质的拉曼荧光干扰，检测方法简单可靠。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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