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频率特性测定装置、控制装置以及频率特性测定方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010214600.3
  • IPC分类号:G01R23/02;G01R27/30
  • 申请日期:
    2020-03-24
  • 申请人:
    发那科株式会社
著录项信息
专利名称频率特性测定装置、控制装置以及频率特性测定方法
申请号CN202010214600.3申请日期2020-03-24
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2020-10-09公开/公告号CN111751616A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R23/02IPC分类号G;0;1;R;2;3;/;0;2;;;G;0;1;R;2;7;/;3;0查看分类表>
申请人发那科株式会社申请人地址
日本山梨县 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人发那科株式会社当前权利人发那科株式会社
发明人罗威;中村勉
代理机构北京银龙知识产权代理有限公司代理人范胜杰;曹鑫
摘要
本发明提供频率特性测定装置、控制装置以及频率特性测定方法,缩短被测定对象的频率特性的测定时间。测定被测定对象的频率特性的频率特性测定装置,具备:多正弦信号生成部,其生成多正弦信号;扫频正弦波生成部,其生成由将预定相位作为初始相位的扫频正弦波和将初始相位移动了一定量而得的扫频正弦波组成的多个扫频正弦波;输入信号切换部,其选择多正弦信号和多个扫频正弦波的某一个并输入到被测定对象;数据取得部,其以预定采样频率取得输入到被测定对象的输入信号的采样数据和从被测定对象输出的输出信号的采样数据;以及特性计算部,其根据所取得的输入输出的采样数据计算出被测定对象中的包含输入输出信号的增益和相位的频率特性。

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