
| 专利名称 | 数字平板式X射线检测系统缺陷定位标记方法 | ||
| 申请号 | CN200910248498.2 | 申请日期 | 2009-12-17 |
| 法律状态 | 暂无 | 申报国家 | 中国 |
| 公开/公告日 | 2010-06-09 | 公开/公告号 | CN101726504A |
| 优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
| 主分类号 | G01N23/18 | IPC分类号 | G;0;1;N;2;3;/;1;8;;;G;0;1;N;2;3;/;0;4查看分类表> |
| 申请人 | 丹东华日理学电气有限公司 | 申请人地址 | 辽宁省丹东市东平大街139号
变更
专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效 |
| 权利人 | 丹东华日理学电气股份有限公司 | 当前权利人 | 丹东华日理学电气股份有限公司 |
| 发明人 | 尚宝刚;王浩;高波;陈剑;徐传波 | ||
| 代理机构 | 沈阳杰克知识产权代理有限公司 | 代理人 | 孙国瑞 |
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
专利权人由丹东华日理学电气有限公司变更为丹东华日理学电气股份有限公司 地址由118001 辽宁省丹东市东平大街139号变更为118001 辽宁省丹东市东平大街139号
授权
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实质审查的生效
IPC(主分类): G01N 23/18 专利申请号: 200910248498.2 申请日: 2009.12.17
公布
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序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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