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数字平板式X射线检测系统缺陷定位标记方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200910248498.2
  • IPC分类号:G01N23/18;G01N23/04
  • 申请日期:
    2009-12-17
  • 申请人:
    丹东华日理学电气有限公司
著录项信息
专利名称数字平板式X射线检测系统缺陷定位标记方法
申请号CN200910248498.2申请日期2009-12-17
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2010-06-09公开/公告号CN101726504A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N23/18IPC分类号G;0;1;N;2;3;/;1;8;;;G;0;1;N;2;3;/;0;4查看分类表>
申请人丹东华日理学电气有限公司申请人地址
辽宁省丹东市东平大街139号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人丹东华日理学电气股份有限公司当前权利人丹东华日理学电气股份有限公司
发明人尚宝刚;王浩;高波;陈剑;徐传波
代理机构沈阳杰克知识产权代理有限公司代理人孙国瑞
摘要
一种数字平板式X射线检测系统缺陷定位标记方法,按照以下步骤进行:(1)系统定位标记装置连接与信号联接;(2)缺陷信号采集;(3)缺陷点空间几何定位;(4)定位标记。本发明缺陷定位标记方法由于采用空间三维测量坐标定位,其定位精度大大提高。又由于采用了直线喷射技术方法,大大节省了空间体积。相比传统的打标方法由于受空间限制不能直接定位缺陷部位还要进行人工二次测量定位标示而言,本方法不受空间限制,可直接喷射标示到远端的实际缺陷位置。本方法具有结构简捷、测量精确定位精度高、标记点小、适用性强等优点。可广泛应用在数字平板式X射线检测系统等更多无损检测系统的标记定位领域。

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