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用于提高光声膜厚度测量系统中的信噪比的方法和设备

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN02818032.1
  • IPC分类号:G01B11/06
  • 申请日期:
    2002-07-12
  • 申请人:
    鲁道夫科技公司
著录项信息
专利名称用于提高光声膜厚度测量系统中的信噪比的方法和设备
申请号CN02818032.1申请日期2002-07-12
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2004-12-15公开/公告号CN1555479
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/06IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;0;6查看分类表>
申请人鲁道夫科技公司申请人地址
美国新泽西州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人鲁道夫科技公司当前权利人鲁道夫科技公司
发明人C·莫拉斯;R·J·斯托纳
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人张雪梅;张志醒
摘要
一种用于提高测量薄膜叠层中各层厚度时的信噪比的设备,使用一种光声测量系统(75),该系统包括时间差分系统(130)用于诱发泵浦光束脉冲(125A)中的延迟。其中,该时间差分系统(130)使用双折射元件和其它元件来控制泵浦光束脉冲(125A)的偏振。该设备的使用涉及向电光调制器驱动器施加随时间变化的电压并设置时间差分步长;或者,在另一个实施例中,向电光调制器施加随时间变化的电压以诱发垂直偏振的脉冲和水平偏振的脉冲之间的固定延迟Δt。该系统的高频操作提供了对膜的厚度的改进的确定。

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