一种双凹透镜中厚测量装置

1.一种双凹透镜中厚测量装置，其特征在于：包括千分表(1)、表架(2)、提手(3)、定位支撑柱(4)、测量承座(5)、伸缩弹簧(6)、定位底座(7)和待测透镜(8)；
所述表架(2)固定连接在千分表(1)的一侧，所述千分表(1)的正面设有显数面板和控制按钮，所述千分表(1)的底部设有可升降的测量头；
所述提手(3)包括连接套环和侧提杆，所述侧提杆沿水平方向设置在连接套环的侧面，所述连接套环传动连接在千分表(1)的测量头的外表面；
所述定位底座(7)为阶梯状，所述定位底座(7)的底部为矩形底座，所述矩形底座的上表面设有顶部圆台；
所述定位支撑柱(4)的底部固定连接在定位底座(7)上表面的顶部圆台顶部的中心位置，所述定位支撑柱(4)的外表面套接有可压缩的伸缩弹簧(6)，所述伸缩弹簧(6)的一端抵接在定位底座(7)上表面的顶部圆台的顶部；
所述测量承座(5)上表面的边缘位置设有定位护板，所述测量承座(5)上表面的中心位置设有中心穿孔(502)，所述中心穿孔(502)套接在定位支撑柱(4)顶部的外表面，所述测量承座(5)的上表面位于定位护板的内测设有仿形槽(501)，所述定位护板的侧面设有铣扁槽(503)；
所述待测透镜(8)放置在测量承座(5)的上表面，且所述待测透镜(8)的外径与测量承座(5)上表面定位护板形成的环形槽的内径一致，且所述待测透镜(8)的中心位置与千分表(1)测量头的轴心位置处于同一垂直轴线上。
2.根据权利要求1所述的一种双凹透镜中厚测量装置，其特征在于：所述定位底座(7)的位置设置在千分表(1)的下方，且所述定位底座(7)顶部圆台的直径小于定位底座(7)底部矩形底座的长度和宽度。
3.根据权利要求1所述的一种双凹透镜中厚测量装置，其特征在于：所述定位支撑柱(4)的顶部装有专用测量表头，所述定位支撑柱(4)顶部的专用测量表头的中心位置与千分表(1)测量头的轴心位置处于同一垂直轴线上。
4.根据权利要求3所述的一种双凹透镜中厚测量装置，其特征在于：所述定位支撑柱(4)的直杆段的直径尺寸与中心穿孔(502)的内径一致，且二者间隙配合，所述定位支撑柱(4)顶部专用测量表头的顶端位置低于中心穿孔(502)的顶部，且所述定位支撑柱(4)顶部专用测量表头的顶端与中心穿孔(502)顶部之间的距离小于定位护板的高度。
5.根据权利要求1所述的一种双凹透镜中厚测量装置，其特征在于：所述铣扁槽(503)的数量为两个，两个所述铣扁槽(503)沿测量承座(5)的直径方向对称设置。

一种双凹透镜中厚测量装置\n技术领域\n[0001] 本实用新型涉及光学冷加工技术领域，具体为一种双凹透镜中厚测量装置。\n背景技术\n[0002] 在光学透镜加工过程中需要检测透镜加工后的中心厚度是否符合图纸要求，这一重要几何尺寸是产品的硬性尺寸所以对光学冷加工来说至关重要，相应的测量检具也显的尤为重要；在透镜测量过程中传统的测量方法是利用大理石表架上粘附对应透镜的测量承座，利用标块校对表具数值后进行测量，这种测量方式往往无法准确的找到零件的中心点，需要多次测量比对，在测量过程中不能直观的读取测量中厚的实际值，并且由于标块的差异实际读取值与实际尺寸存在叠加误差，不能满足高精度要求的产品生产，影响产品整体产出率，以上弊端在外径较大、中厚较薄、曲率较小的凹透镜的测量上显的尤为突出，因此需要一种新的测量检具。\n实用新型内容\n[0003] (一)解决的技术问题\n[0004] 针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种双凹透镜中厚测量装置，解决了上述背景技术中提出的问题。\n[0005] (二)技术方案\n[0006] 为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种双凹透镜中厚测量装置，包括千分表、表架、提手、定位支撑柱、测量承座、伸缩弹簧、定位底座和待测透镜；\n[0007] 所述表架固定连接在千分表的一侧，所述千分表的正面设有显数面板和控制按钮，所述千分表的底部设有可升降的测量头；\n[0008] 所述提手包括连接套环和侧提杆，所述侧提杆沿水平方向设置在连接套环的侧面，所述连接套环传动连接在千分表的测量头的外表面；\n[0009] 所述定位底座为阶梯状，所述定位底座的底部为矩形底座，所述矩形底座的上表面设有顶部圆台；\n[0010] 所述定位支撑柱的底部固定连接在定位底座上表面的顶部圆台顶部的中心位置，所述定位支撑柱的外表面套接有可压缩的伸缩弹簧，所述伸缩弹簧的一端抵接在定位底座上表面的顶部圆台的顶部；\n[0011] 所述测量承座上表面的边缘位置设有定位护板，所述测量承座上表面的中心位置设有中心穿孔，所述中心穿孔套接在定位支撑柱顶部的外表面，所述测量承座的上表面位于定位护板的内测设有仿形槽，所述定位护板的侧面设有铣扁槽；\n[0012] 所述待测透镜放置在测量承座的上表面，且所述待测透镜的外径与测量承座上表面定位护板形成的环形槽的内径一致，且所述待测透镜的中心位置与千分表测量头的轴心位置处于同一垂直轴线上。\n[0013] 优选的，所述定位底座的位置设置在千分表的下方，且所述定位底座顶部圆台的直径小于定位底座底部矩形底座的长度和宽度。\n[0014] 优选的，所述定位支撑柱的顶部装有专用测量表头，所述定位支撑柱顶部的专用测量表头的中心位置与千分表测量头的轴心位置处于同一垂直轴线上。\n[0015] 优选的，所述定位支撑柱的直杆段的直径尺寸与中心穿孔的内径一致，且二者间隙配合，所述定位支撑柱顶部专用测量表头的顶端位置低于中心穿孔的顶部，且所述定位支撑柱顶部专用测量表头的顶端与中心穿孔顶部之间的距离小于定位护板的高度。\n[0016] 优选的，所述铣扁槽的数量为两个，两个所述铣扁槽沿测量承座的直径方向对称设置。\n[0017] (三)有益效果\n[0018] 与现有技术相比，本实用新型提供了一种双凹透镜中厚测量装置，具备以下有益效果：\n[0019] 该双凹透镜中厚测量装置，通过定位支撑柱、测量承座、伸缩弹簧和定位底座的配合设置，在使用的过程中简化了量测的过程，通过测量承座与定位支撑柱的紧密配合确保了被测玻璃的中心位置的准确性，减少了测量误差，降低了实际测量操作难度实现快速直观的测量读取，相对于传统检测检具提高了测量精度、易操作，满足高品质、批量化加工的要求，提高了经济效益。\n附图说明\n[0020] 图1为本实用新型整体的结构示意图；\n[0021] 图2为本实用新型测量承座俯视的结构示意图；\n[0022] 图3为本实用新型测量状态的结构示意图。\n[0023] 图中：1、千分表；2、表架；3、提手；4、定位支撑柱；5、测量承座； 501、仿形槽；502、中心穿孔；503、铣扁槽；6、伸缩弹簧；7、定位底座； 8、待测透镜。\n具体实施方式\n[0024] 下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。\n[0025] 请参阅图1至图3，本实用新型提供技术方案：一种双凹透镜中厚测量装置，包括千分表1、表架2、提手3、定位支撑柱4、测量承座5、伸缩弹簧 6、定位底座7和待测透镜8；\n[0026] 表架2固定连接在千分表1的一侧，千分表1的正面设有显数面板和控制按钮，千分表1的底部设有可升降的测量头；\n[0027] 提手3包括连接套环和侧提杆，侧提杆沿水平方向设置在连接套环的侧面，连接套环传动连接在千分表1的测量头的外表面；\n[0028] 定位底座7为阶梯状，定位底座7的底部为矩形底座，矩形底座的上表面设有顶部圆台，定位底座7的位置设置在千分表1的下方，且定位底座7 顶部圆台的直径小于定位底座7底部矩形底座的长度和宽度；\n[0029] 定位支撑柱4的底部固定连接在定位底座7上表面的顶部圆台顶部的中心位置，定位支撑柱4的外表面套接有可压缩的伸缩弹簧6，伸缩弹簧6的一端抵接在定位底座7上表面的顶部圆台的顶部，定位支撑柱4的顶部装有专用测量表头，定位支撑柱4顶部的专用测量表头的中心位置与千分表1测量头的轴心位置处于同一垂直轴线上；\n[0030] 测量承座5上表面的边缘位置设有定位护板，测量承座5上表面的中心位置设有中心穿孔502，中心穿孔502套接在定位支撑柱4顶部的外表面，测量承座5的上表面位于定位护板的内测设有仿形槽501，定位护板的侧面设有铣扁槽503，铣扁槽503的数量为两个，两个铣扁槽503沿测量承座5的直径方向对称设置，定位支撑柱4的直杆段的直径尺寸与中心穿孔502的内径一致，且二者间隙配合，定位支撑柱4顶部专用测量表头的顶端位置低于中心穿孔502的顶部，且定位支撑柱4顶部专用测量表头的顶端与中心穿孔502 顶部之间的距离小于定位护板的高度；\n[0031] 待测透镜8放置在测量承座5的上表面，且待测透镜8的外径与测量承座5上表面定位护板形成的环形槽的内径一致，且待测透镜8的中心位置与千分表1测量头的轴心位置处于同一垂直轴线上。\n[0032] 在使用时，先将千分表1校准归零，通过提手3将千分表1的测量头提起，将待测透镜8放入测量承座5顶部定位护板形成的定位槽内，放入后待测透镜8的中心位置与千分表1的测量头和定位支撑柱4顶部的专用测量表头的中心位置均保持在同一竖直轴线上，随后向下拉动测量承座5，使得待测透镜8完全与测量承座5脱离，千分表1的测量头和定位支撑柱4顶部的专用测量表头夹持在待测透镜8的中心位置对待测透镜8的中心厚度进行测量，待度数完成后松开测量承座5，再次通过提手3将千分表1的测量头提起，将测量完成后的待测透镜8取出，放入下一个待测透镜8进行连续的测量。\n[0033] 综上所述，该双凹透镜中厚测量装置，通过定位支撑柱4、测量承座5、伸缩弹簧6和定位底座7的配合设置，在使用的过程中简化了量测的过程，通过测量承座5与定位支撑柱4的紧密配合确保了被测玻璃的中心位置的准确性，减少了测量误差，降低了实际测量操作难度实现快速直观的测量读取，相对于传统检测检具提高了测量精度、易操作，满足高品质、批量化加工的要求，提高了经济效益。\n[0034] 以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。