一种静电成形薄膜反射面天线分析方法

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专利名称	一种静电成形薄膜反射面天线分析方法
申请号	CN201510752953.8	申请日期	2015-11-06
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-03-23	公开/公告号	CN105426592A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F17/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F17/00 特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法〔6〕 G06F17/50 计算机辅助设计（静态存储的测试电路的设计入G11C 29/54）〔6，8〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;7;/;5;0查看分类表>
申请人	西安电子科技大学	申请人地址	陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安电子科技大学	当前权利人	西安电子科技大学
发明人	谷永振;杜敬利;姜文明;秦东宾;张逸群;张树新
代理机构	西安吉盛专利代理有限责任公司	代理人	张恒阳

摘要

本发明属于雷达天线技术领域，具体提供了一种静电成形薄膜反射面天线分析方法。首先建立薄膜反射面有限元模型，将静电力表示为单元节点位移的函数施加到模型中，然后应用指数型增量加载方式进行模型求解得到薄膜反射面变形。采用本发明得到的薄膜反射面变形与现有技术相比结果准确，计算效率更高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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该专利没有被任何外部专利所引用！

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