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一种电场探头校准方法和装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201711148056.1
  • IPC分类号:G01R35/00
  • 申请日期:
    2017-11-17
  • 申请人:
    北京无线电计量测试研究所
著录项信息
专利名称一种电场探头校准方法和装置
申请号CN201711148056.1申请日期2017-11-17
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-05-11公开/公告号CN108020802A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R35/00IPC分类号G;0;1;R;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人北京无线电计量测试研究所申请人地址
北京市海淀区永定路50号142信箱408分箱 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京无线电计量测试研究所当前权利人北京无线电计量测试研究所
发明人刘星汛;齐万泉;彭博;黄承祖;董佳;马蔚宇;闫旭红
代理机构北京国昊天诚知识产权代理有限公司代理人许志勇
摘要
本发明公开了一种电场探头校准方法和装置,解决现有方法和装置校准频率范围小、校准稳定性差、时间长、无法大批量校准的问题。所述方法,包括:在同心锥TEM室馈电处注入输入信号,产生校准电场;根据被校准场探头频率范围确定校准点;根据校准点频率,在校准电场的场均匀区域内放入标准场探头,得到标准场强;在相同位置放入被校准场探头,记录场强指示值;计算所述校准点的频率响应偏差和频率响应修正因子。所述装置包含:同心锥TEM室、信号源、功率计、定向耦合器、被校场探头,信号源产生校准点频率值的输入信号;定向耦合器接收输入信号并传给同心锥TEM室;同心锥TEM室产生校准电场。本发明实现了电场探头的大频率范围、快速校准问题。

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