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具有缩小尺寸的半导体存储器装置的修复控制电路

发明专利有效专利

申请号：
CN200610071515.6
IPC分类号：G11C29/24
申请日期：
2006-03-29
申请人：
海力士半导体有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	具有缩小尺寸的半导体存储器装置的修复控制电路
申请号	CN200610071515.6	申请日期	2006-03-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2006-10-04	公开/公告号	CN1841567
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/08 功能测试，例如，在刷新、通电自检〔POST〕或分布型测试期间的测试〔8〕 G11C29/12 用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置〔BIST〕〔8〕 G11C29/18 地址形成装置；访问内存装置，例如，寻址电路的零部件〔8〕 G11C29/24 访问额外单元，例如，虚拟单元或冗余单元〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;2;4查看分类表>
申请人	海力士半导体有限公司	申请人地址	韩国京畿道变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	海力士半导体有限公司	当前权利人	海力士半导体有限公司
发明人	朴镇寿
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	郭定辉;黄小临

摘要

一种包括修复控制电路的半导体装置。无需使用熔丝盒，要修复的故障单元的地址被编程至闪存单元盒中，并且使用该闪存单元盒来修复故障单元。修复控制电路所占据的区域及整个芯片尺寸可缩小。

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