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基于单幅图像的平面测量方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN01140335.7
  • IPC分类号:G01C11/00
  • 申请日期:
    2001-12-17
  • 申请人:
    中国科学院自动化研究所
著录项信息
专利名称基于单幅图像的平面测量方法
申请号CN01140335.7申请日期2001-12-17
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2003-07-02公开/公告号CN1427245
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01C11/00IPC分类号G;0;1;C;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人中国科学院自动化研究所申请人地址
北京市海淀区中关村南一条1号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院自动化研究所当前权利人中国科学院自动化研究所
发明人胡占义;吴福朝;王光辉
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人戎志敏
摘要
一种基于单幅图像的平面测量方法,包括步骤:在被测场景平面中放置一个模板;在被测场景中拍摄一幅或多幅含有所述模板的图像并输入计算机;通过自动或人机交互方法从图像中提取出模板中所包含的直线信息;计算出被测平面与像平面间的映射关系;根据此映射关系求出场景中任意一点的坐标值及任意两点间的距离。本发明提供的测量方法不需要对摄像机参数进行标定,而且具有较为简便、实用、测量精度高、鲁棒性好等特点,使基于视觉的测量方法走向实用。

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