一种两步三维傅里叶变换测量物体内部三维变形场的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201310426262.X
IPC分类号：G01B11/16
申请日期：
2013-09-18
申请人：
中国矿业大学(北京);毛灵涛

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著录项信息

专利名称	一种两步三维傅里叶变换测量物体内部三维变形场的方法
申请号	CN201310426262.X	申请日期	2013-09-18
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2014-02-19	公开/公告号	CN103591904A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/16 用于计量固体的变形，例如光学应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;1;6查看分类表>
申请人	中国矿业大学(北京);毛灵涛	申请人地址	北京市海淀区学院路丁11号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国矿业大学(北京),毛灵涛	当前权利人	中国矿业大学(北京),毛灵涛
发明人	毛灵涛;姜复本
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供了一种利用两次三维傅里叶变换测量物体内部三维位移场及应变场的方法。利用微焦点计算机层析，微核磁共振或激光扫描共焦显微镜获得内部具有天然或人工制作的散斑结构的物体变形前后的三维图像。将变形前后的三维图像分别分割成若干相同尺寸的子体块，相对应的成对子块体逐一进行第一步三维傅里叶变换，在频谱域进行数值干涉得到合成谱，对合成谱进行第二步的三维傅里叶变换，得到含位移信息的扩展脉冲函数，通过求取峰值位置得到相对应子块体的位移矢量，由所有子块体位移矢量获得物体内部三维变形场。通过插值获得位移的亚体素精度。由应变与变形间的关系方程，求出物体内部的应变场。

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