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一种角度相关互耦影响下相干信号的高分辨率定位方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010819681.X
  • IPC分类号:G01S3/14;G01S3/802;G01S13/00;G01S15/00
  • 申请日期:
    2020-08-14
  • 申请人:
    电子科技大学;电子科技大学广东电子信息工程研究院
著录项信息
专利名称一种角度相关互耦影响下相干信号的高分辨率定位方法
申请号CN202010819681.X申请日期2020-08-14
法律状态实质审查申报国家暂无
公开/公告日2020-11-17公开/公告号CN111948599A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01S3/14IPC分类号G;0;1;S;3;/;1;4;;;G;0;1;S;3;/;8;0;2;;;G;0;1;S;1;3;/;0;0;;;G;0;1;S;1;5;/;0;0查看分类表>
申请人电子科技大学;电子科技大学广东电子信息工程研究院申请人地址
四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人电子科技大学,电子科技大学广东电子信息工程研究院当前权利人电子科技大学,电子科技大学广东电子信息工程研究院
发明人杨朝麟;郑植;王文钦
代理机构成都玖和知识产权代理事务所(普通合伙)代理人暂无
摘要
本发明公开了一种角度相关互耦影响下相干信号的高分辨率定位方法,根据获取的天线阵列,建立阵元角度相关互耦系数模型和相干信号的阵列数据接收模型;然后,根据角度相关互耦矩阵的拓普利兹对称特性,构建阵列流形矢量线性组合;接着,对多个信号的阵列流形矢量进行归一化处理,得到对应的归一化线性组合;其次,对中心阵列进行子阵划分,得到线性预测系数;最后根据所述线性预测系数构建估计方程,得到对应的DOA值。本发明不仅去掉了角度相关互耦效应与多径影响,而且在相干源间隔相近时,提供算法的估计精度。

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