一种辐射测温装置的温控方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310298202.4
IPC分类号：G01J5/00;G01J5/06
申请日期：
2013-07-16
申请人：
哈尔滨工业大学

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著录项信息

专利名称	一种辐射测温装置的温控方法
申请号	CN201310298202.4	申请日期	2013-07-16
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-09	公开/公告号	CN103344341A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J5/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J5/00 辐射高温测定法	IPC分类号	G;0;1;J;5;/;0;0;;;G;0;1;J;5;/;0;6查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市经开区哈平路集中区大连北路与兴凯路交口处变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈工大机器人集团股份有限公司	当前权利人	哈工大机器人集团股份有限公司
发明人	张昱;刘正君
代理机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所	代理人	张宏威

摘要

一种辐射测温装置的温控方法，涉及辐射测温领域。解决了现有辐射测温装置结构复杂，难以在狭小的空间内进行温度测量；由于半球型前置反射器的温度高于被测物体的温度引起被测表面的温升，影响测量结果的准确性、及无法实现温控的问题。半球型前置反射器为含有顶端开有小孔的半球型前置反射腔的圆柱体结构，辐射温度计进行温度测量；开有通孔且中心位置开有小孔的半导体制冷片通过导热硅胶与半球型前置反射器的顶部黏贴，每个通孔中均放置温度传感器；辐射温度计获得被测试件的辐射温度，PID控制器中设定半球型前置反射器的工作温度，控制半导体制冷片中的电流实现温度控制。本发明适用于对物体进行辐射测温。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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