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J-TUNED
42类-网站服务 待审中
申请号:
G1690653
申请日期:2022-10-20
注册日期:暂无
最新流程: 领土延伸 | 驳回电子发文
代理机构: 国际局
服务项:

4209与测试集成电路芯片相关的技术顾问、信息和咨询、与用于测试电路板和集成电路芯片的测试探针相关的工程服务、集成电路芯片测试探针的设计与开发;

4214与测试集成电路芯片相关的技术顾问、信息和咨询、与用于测试电路板和集成电路芯片的测试探针相关的工程服务、集成电路芯片测试探针的设计与开发;

4216集成电路芯片测试探针的设计与开发;

4209与测试集成电路芯片相关的技术顾问、信息和咨询、与用于测试电路板和集成电路芯片的测试探针相关的工程服务、集成电路芯片测试探针的设计与开发;

4214与测试集成电路芯片相关的技术顾问、信息和咨询、与用于测试电路板和集成电路芯片的测试探针相关的工程服务、集成电路芯片测试探针的设计与开发;

4216集成电路芯片测试探针的设计与开发;

JOHNSTECH
42类-网站服务 已注册
申请号:
G1682839
申请日期:2022-09-15
注册日期:暂无
最新流程: 领土延伸 | 审查
代理机构: 国际局
服务项:

4209与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发、与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务;

4214与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发、与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务;

4216与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发;

4209与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发、与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务;

4214与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发、与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务;

4216与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发;

求购
JOHNSTECH
9类-科学仪器 已注册
申请号:
G1682839
申请日期:2022-09-15
注册日期:暂无
最新流程: 领土延伸 | 审查
代理机构: 国际局
服务项:

0910用于集成电路测试器中测试接触器的外壳、半导体测试仪、测试集成电路用装置性质的测试夹具,用于集成电路测试器的接触测试引脚,以及集成电路测试插座,及其组件;

0913用于集成电路测试器中测试接触器的外壳、测试集成电路用装置性质的测试夹具,用于集成电路测试器的接触测试引脚,以及集成电路测试插座,及其组件;

0910用于集成电路测试器中测试接触器的外壳、半导体测试仪、测试集成电路用装置性质的测试夹具,用于集成电路测试器的接触测试引脚,以及集成电路测试插座,及其组件;

0913用于集成电路测试器中测试接触器的外壳、测试集成电路用装置性质的测试夹具,用于集成电路测试器的接触测试引脚,以及集成电路测试插座,及其组件;

求购
J-TUNED
42类-网站服务 待审中
申请号:
G1691421
申请日期:2022-10-20
注册日期:暂无
最新流程: 驳回复审 | 实审裁文发文
代理机构: 国际局
服务项:

4209集成电路芯片测试探针的设计与开发、与用于测试电路板和集成电路芯片的测试探针相关的工程服务、与测试集成电路芯片相关的技术顾问、信息和咨询;

4214与用于测试电路板和集成电路芯片的测试探针相关的工程服务、与测试集成电路芯片相关的技术顾问、信息和咨询、集成电路芯片测试探针的设计与开发;

4216集成电路芯片测试探针的设计与开发;

4209集成电路芯片测试探针的设计与开发、与用于测试电路板和集成电路芯片的测试探针相关的工程服务、与测试集成电路芯片相关的技术顾问、信息和咨询;

4214与用于测试电路板和集成电路芯片的测试探针相关的工程服务、与测试集成电路芯片相关的技术顾问、信息和咨询、集成电路芯片测试探针的设计与开发;

4216集成电路芯片测试探针的设计与开发;

图形
9类-科学仪器 待审中
申请号:
G1625407
申请日期:2021-11-11
注册日期:暂无
最新流程: 驳回复审 | 实审裁文发文
代理机构: 国际局
服务项:

0910半导体测试仪;

0913用于集成电路测试器中测试接触器的外壳、以及集成电路测试用插座,及其组件、用于集成电路测试器的接触测试引脚、测试集成电路用装置性质的测试夹具;

0910半导体测试仪;

0913用于集成电路测试器中测试接触器的外壳、以及集成电路测试用插座,及其组件、用于集成电路测试器的接触测试引脚、测试集成电路用装置性质的测试夹具;

SHOTO
9类-科学仪器 已注册
申请号:
G1571360
申请日期:2021-01-21
注册日期:暂无
最新流程: 领土延伸 | 审查
代理机构: 国际局
服务项:

0910测试集成电路用探针、用于测试印刷电路板的测试探针;

0910测试集成电路用探针、用于测试印刷电路板的测试探针;

求购
MMRF
9类-科学仪器 已注册
申请号:
G1360733
申请日期:2017-08-17
注册日期:暂无
最新流程: 领土延伸 | 审查
代理机构: 国际局
服务项:

0913集成电路电性能测试仪、集成电路电测试外壳和测试座及其组件、用于测试集成电路芯片的探针阵列和电触插脚;

0913集成电路电性能测试仪、集成电路电测试外壳和测试座及其组件、用于测试集成电路芯片的探针阵列和电触插脚;

求购
图形
42类-网站服务 待审中
申请号:
G1625407
申请日期:2021-11-11
注册日期:暂无
最新流程: 驳回复审 | 实审裁文发文
代理机构: 国际局
服务项:

4209与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发、与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务;

4214与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发、与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务;

4216与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发;

4209与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发、与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务;

4214与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发、与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务;

4216与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发;

J
42类-网站服务 待审中
申请号:
G1684492
申请日期:2022-09-22
注册日期:暂无
最新流程: 驳回复审 | 实审裁文发文
代理机构: 国际局
服务项:

4209与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务、与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发;

4214与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发、与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务;

4216与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发;

4209与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务、与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发;

4214与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发、与测试集成电路芯片用阵列式探针测试相关的工程服务;

4216与下述内容相关的技术建议、信息和咨询:测试集成电路芯片用阵列式探针测试,测试集成电路芯片用阵列式探针的设计与开发;

DAISHO
9类-科学仪器 待审中
申请号:
G1650071
申请日期:2022-03-17
注册日期:暂无
最新流程: 驳回复审 | 实审裁文发文
代理机构: 国际局
服务项:

0910半导体测试仪、测试集成电路用装置性质的测试夹具、集成电路测试器用接触测试引脚;

0910半导体测试仪、测试集成电路用装置性质的测试夹具、集成电路测试器用接触测试引脚;

YARI
9类-科学仪器 已注册
申请号:
G1571763
申请日期:2021-01-21
注册日期:暂无
最新流程: 领土延伸 | 审查
代理机构: 国际局
服务项:

0910用于测试印刷电路板的测试探针、测试集成电路用探针;

0910用于测试印刷电路板的测试探针、测试集成电路用探针;

求购
J
9类-科学仪器 待审中
申请号:
G1684492
申请日期:2022-09-22
注册日期:暂无
最新流程: 驳回复审 | 实审裁文发文
代理机构: 国际局
服务项:

0910用于集成电路测试器中测试接触器的外壳、测试集成电路用装置性质的测试夹具,用于集成电路测试器的接触测试引脚,以及集成电路测试用插座,及其组件、半导体测试仪;

0913测试集成电路用装置性质的测试夹具,用于集成电路测试器的接触测试引脚,以及集成电路测试用插座,及其组件、用于集成电路测试器中测试接触器的外壳;

0910用于集成电路测试器中测试接触器的外壳、测试集成电路用装置性质的测试夹具,用于集成电路测试器的接触测试引脚,以及集成电路测试用插座,及其组件、半导体测试仪;

0913测试集成电路用装置性质的测试夹具,用于集成电路测试器的接触测试引脚,以及集成电路测试用插座,及其组件、用于集成电路测试器中测试接触器的外壳;

*来源于中国商标网数据,仅供参考